Hellma Analytics比色皿用于吸光度和荧光测量
用于可靠测量
以 精度采集
高精度石英比色皿，型号100-QS
经数十年验证，应用于无数场景
光程长度与平行度达到 精度
极高耐温性
极强耐化学性
的测量重复性

用于吸光度和荧光测量的比色皿
Hellma Analytics生产多种比色皿，
适用于光谱学和细胞计数，
光程范围从0.01毫米到100毫米及以上。
凭借其稳定性、 精度和可靠性，
Hellma比色皿在吸光度和荧光测量中表现 ，
广泛适用于实验室的各个领域。表面平整度达1微米的石英窗片，树立了比色皿制造的新标杆。
更值得一提的是，其功能优化的斜边圆角设计有效防止开裂损伤风险，为用户日常操作提供保障。
可根据需求定制特定应用领域的专属型号。
比色皿透射率测量
可按要求将比色皿分组进行光谱校准，
确保各组透射值一致（测量不确定度±1%）。
每组比色皿均标注三位校准代码，
内含材料编码及该材料典型波长下的透射率数据。
比色皿旋光检测
内径大于5毫米的比色皿可按需进行旋光检测。检测合格产品标注“P”标识，并随附检测证书，确认偏振面旋转角度不超过0.01度。

优势
窗口极高平行度， 公差±0.01毫米
的光程精度可达0.003毫米（3微米），确保高尺寸精度与可重复测量结果
光学窗口表面平整度达0.001毫米（1微米） (1微米)
通过热压结合单个组件（实质上为整体结构）实现极高的温度稳定性和化学耐受性
根据材料特性，在200纳米至3500纳米波长范围内保证至少82%的透射率

HELLMA分析池的决定性优势

比色皿看似相同，实则大相径庭。差异往往体现在细节之处，并可能对测量结果产生决定性影响。以我们的比色皿窗为例，其 品质体现在平整度公差小于0.001毫米（1微米）。两片窗面之间的平行度同样至关重要。我们采用高精度生产工艺，确保比色皿窗前端波形变形量小于4个波长，若波长λ=546纳米，则相当于约0.001毫米（1微米）。如此高的平整度水平，彰显了Hellma Analytics比色皿树立行业标杆的地位。这一切共同构筑了可靠、可重复且 测量的理想基础。

Hellma Analytics比色皿用于吸光度和荧光测量